Kompaktní XUV profilometr a spektrometr

Kompaktní profil XUV profilů pomocí jediného detektoru a plochého spektrometru.

Ve výsledku se ukázalo, že je obzvlášť vhodný jako zdroj paprsku pro paprskové zdroje měkkého rentgenového záření na VUV záření, které se vyskytují v řadě výzkumných a univerzitních laboratoří.

 Technická data

Jednoduchá užitnost přístroje, který je velmi praktický a snadno použitelný

Možnost kompaktního provedení (vše se vejde do trubky DN 100 o délce 300 mm)

Zvláště vhodný pro paprskové zdroje měkkého rentgenového záření na VUV záření, které se vyskytují v mnoha výzkumných a univerzitních laboratořích

(HHG, rentgenové lasery na bázi plazmy, synchrotrony, FELs)

Benefity

Implementace zdroje HHG v zařízení PALS

Vysokorychlostní generátor harmonické generace (HHG) poháněný ~ 70 mJ, 50 fs laserovým impulsem

Bylo dosaženo generace mezi 8 a 60 nm

Mřížka: Hitachi 001 – 0437 (1200 l/mm), úhel dopadu 4,5°

Detektor: zadní osvětlený CCD (ANDOR)

 

Kompozitní optické sestavy

Pevný samostatný detektor (umístěný na ose nosníku)

Plošný spektrometr (sférická nerez ventilační mřížka (VLS) zobrazující zdroj, tj. žádná štěrbina)

Zesílené ploché zrcadlo XUV, např. Au – přesune rozsah vlnových délek (překlad C)


 Kontakt

Ing. Oskar Lažanský | e-mail: oskar.lazansky@eli-beams.eu | mobil: +420 725 015 339

 

 

 

 

Komentáře jsou vypnuty.